NIR与SWIR的主要区别体现在以下几个方面：

首先，NIR和SWIR的波长范围不同。NIR的波长范围通常在700至2500纳米之间，而SWIR的波长范围则定义为0.9-1.7μm，有时也可归入0.7-2.5μm波长范围。

其次，它们在应用上也有显著的不同。NIR光谱主要用于分析各种样品的吸收、反射或透射特性，因此在食品、医药、化工、农业等行业中有广泛应用。例如，通过NIR光谱技术，我们可以进行药品质量控制、食品检测、化工生产控制和农作物品质分析等。而SWIR成像技术则更多地被用于安全和监控领域，其能够透过烟雾进行成像，并且有时单独使用，也常常与其他成像仪结合使用。

最后，由于硅传感器的上限约为1.0μm，SWIR成像需要使用能在SWIR范围内工作的独特组件，如砷化铟镓（InGaAs）传感器。相比之下，NIR成像则可能不需要这些特殊组件。

综上所述，NIR和SWIR在波长范围、应用以及所需设备等方面存在明显的区别。这些区别使得这两种技术在不同的领域和场景中发挥各自的优势。